共用方式為


gather4_po_c (sm5 - asm)

行為與 gather4_po相同,但會在紋素上執行比較,類似于 sample_c

gather4_po_c dest[.mask], srcAddress[.swizzle], srcOffset[.swizzle], srcResource[.swizzle], srcSampler[.r], srcReferenceValue
項目 描述
dest
[in]作業結果的位址。
srcAddress
[in]一組紋理座標。
srcOffset
[in]位移。
srcResource
[in]紋理暫存器。
srcSampler
[in]取樣器暫存器。
srcReferenceValue
[in]已選取單一元件。

備註

如需srcReferenceValue與每個擷取紋素的比較方式的相關資訊,請參閱sample_c。 不同于 sample_cgather4_po_c 會傳回每個比較結果,而不是篩選結果。

此指令與 gather4_po一樣,僅適用于 2D 紋理。 這與 gather4_c不同,這也適用于 TextureCubes。

對於具有 float32 元件的格式,如果擷取的值已正規化或 +-INF,則會在未變更的比較作業中使用。 NaN 用於比較作業中做為 NaN,但 NaN 的確切位標記法可能會變更。 Denorms 會排清為零,以進入比較。 對於 TextureCubes,遺漏第 4 個材質的某些合成必須在角落髮生,因此不會套用針對合成材質傳回未變更的位概念。

gather4_po_c支援的格式與sample_c支援的格式相同。 這些是單一元件格式,因此 為 。srcSampler 上的 R,而不是任意的 Swizzle。

系結資源上的gather4_po_c會傳回 0。

使用這個方法來篩選陰影圖。

本指示適用于下列著色器階段:

頂點 船體 網域 幾何形狀 像素 計算
X X X X X X

最小著色器模型

下列著色器模型支援此指示:

著色器模型 支援
著色器模型 5
著色器模型 4.1
著色器模型 4
著色器模型 3 (DirectX HLSL)
著色器模型 2 (DirectX HLSL)
著色器模型 1 (DirectX HLSL)

著色器模型 5 元件 (DirectX HLSL)