다음을 통해 공유

Windows HLK를 사용하여 디바이스 기본 사항 안정성 테스트 문제 해결

  • 아티클

이 문서에서는 Windows HLK(Windows Hardware Lab Kit) 디바이스 기본 사항 안정성 테스트 중에 발생할 수 있는 문제를 해결하는 방법을 설명합니다. Windows HLK 테스트 실패 문제 해결을 참조하세요.

디바이스 기본 사항 안정성 테스트 문제 해결은 다음 기본 단계로 구성됩니다.

  1. 디바이스 구성 확인

  2. 테스트 실패 유형 식별

  3. 테스트 실패 분류

다음 섹션에서는 실패한 디바이스 기본 사항 안정성 테스트 문제를 해결하는 데 사용할 수 있는 추가 세부 정보 및 중요한 정보를 제공합니다.

디바이스 구성 확인

디바이스 기본 사항 안정성 테스트에서는 I/O를 테스트하도록 테스트 디바이스를 적절하게 구성해야 합니다. 테스트를 시작하기 전에 테스트 구성이 Device.Fundamentals 안정성 테스트 필수 구성 요소에 설명된 테스트 필수 구성 요소를 준수하는지 확인합니다. 이러한 필수 구성 요소를 충족하지 못하면 테스트가 실패할 수 있습니다.

테스트 실패 유형 식별

특정 유형의 테스트 실패를 식별하려면 Windows HLK 테스트 실패 문제 해결의 Windows HLK 테스트 실패 문제 해결을 참조하세요.

테스트 로그 오류

Windows HLK에서 디바이스 기본 사항 안정성 테스트가 실패하는 가장 일반적인 방법은 테스트를 통해 오류를 기록하는 것입니다. 실패한 테스트에서 실패를 기록한 경우 이 항목의 테스트 실패 분류 섹션으로 진행하는 것이 좋습니다.

시스템 버그 검사 테스트

시스템 버그 검사는 테스트의 특성(스트레스, 안정성, 동시성 등)으로 인해 디바이스 기본 사항 안정성 테스트 중에 흔히 볼 수 있습니다.

시스템 버그 검사로 인한 오류를 조사할 때는 테스트 시스템을 커널 디버거에 연결하여 테스트를 다시 실행하는 것이 좋습니다. 디버거를 사용하여 테스트를 실행하면 시스템이 버그를 검사할 때 시스템이 디버거에 침입합니다.

테스트 중단

디바이스 기본 사항 안정성 테스트 중에 테스트 중단이 자주 발생합니다. 테스트 중단은 일반적으로 I/O 요청 패킷(IRP)(일반적으로 I/O 및 PNP IRP)이 드라이버에서 중단되어 테스트가 진행되지 않을 때 나타납니다.

참고

Windows HLK는 결국 다음 예약된 테스트를 진행할 수 있도록 중단 테스트를 취소하고 실패합니다.

테스트가 중단되면 테스트 시스템을 커널 디버거에 연결하여 테스트를 다시 실행하는 것이 좋습니다. 이렇게 하면 테스트가 중단될 때 디버거에 침입하고 테스트 프로세스의 스택 추적을 검사할 수 있습니다(디바이스 기본 사항 안정성 테스트는 일반적으로 te.processhost.exe 또는 te.exe로 실행됨).

테스트 실패 분류

테스트 설명서 검토

디바이스 기본 사항 안정성 테스트는 일반적으로 I/O를 사용한 절전 모드, I/O가 있는 PNP, I/O로 다시 부팅 등과 같은 일반적인 사용자 시나리오를 테스트합니다. Device.DevFund 테스트에서 적절한 테스트 설명서를 검토하여 실패한 테스트에 대한 테스트 중인 시나리오를 완전히 이해하는 것이 좋습니다.

테스트 로그 철저히 검토

실제 오류 메시지 앞에 오는 로그 항목을 철저히 검토하여 현재 테스트 시나리오 및 실행된 이전 테스트 시나리오를 명확하게 이해해야 합니다. 경우에 따라 실행된 이전 테스트 시나리오(통과하더라도)가 다음 테스트 시나리오에 영향을 줍니다. 예를 들어 디바이스가 비활성화 및 활성화된 후에 I/O 오류가 발생할 수 있습니다. 테스트 로그 검토에 대한 자세한 내용은 로그 파일 검토를 참조하세요.

다시 복사된 추가 로그 파일 검토

디바이스 기본 사항 안정성 테스트는 종종 테스트 실패를 분류하는 데 유용한 추가 파일을 다시 복사합니다. 예를 들어 다시 설치 및 PNP 테스트는 테스트 시스템에서 SetupAPI 로그를 다시 복사합니다. Windows HLK Studio의 결과 탭에 있는 추가 파일 아래의 모든 파일을 열고 검토해야 합니다. 테스트 결과를 마우스 오른쪽 단추로 클릭한 다음, 추가 파일을 선택합니다.

WDTF 추적 수집 및 보기

특정 테스트 실패 문제를 해결할 때 WDTF 추적을 수집하고 확인하면 유용할 수 있습니다. WDTF 추적을 수집하고 보는 방법에 대한 정보는 WDTF(Windows Device Testing Framework) 추적 수집 및 보기를 참조하세요.

도움말을 보는 방법

Microsoft의 디바이스 기본 사항 안정성 테스트 소유자는 Windows 하드웨어 테스트 및 인증 포럼에서 디바이스 기본 사항 테스트 실패에 대해 게시된 질문을 정기적으로 검토하고 응답합니다. 이 포럼을 사용하여 필요한 지원을 받는 것이 좋습니다.

테스트 실패를 조사하기 위한 지원 사례를 여는 방법에 대한 자세한 내용은 Windows HLK 지원을 참조하세요.

추가 리소스

다음 표에는 디바이스 기본 사항 테스트 중에 발생할 수 있는 문제를 해결하는 데 도움이 되는 추가 리소스가 나와 있습니다.

리소스 Description

Windows HLK 환경 문제 해결

Windows HLK 인프라 오류에 대한 일반적인 분류 및 문제 해결 지원.

Windows HLK 테스트 실패 문제 해결

테스트 실패를 조사하기 위한 일반적인 분류 및 문제 해결 지침입니다.

WDTF 기반 테스트 분류

WDTF 기반 테스트에 의해 기록되는 오류 문제 해결에 대한 일반 지침입니다.

디바이스 기본 사항 테스트를 선택 및 구성하는 방법

디바이스 기본 사항 안정성 테스트는 WDK(Windows 드라이버 키트)에도 제공됩니다. 드라이버 개발자는 WDK 및 Microsoft Visual Studio를 사용하여 테스트 실패를 조사하기 위해 실패한 테스트를 실행하는 것을 선호할 수 있습니다. 이 페이지에서는 WDK를 사용하여 테스트를 실행하는 방법을 설명합니다.

%ProgramFiles%\Windows Kits\8.1\Testing\Tests\Additional Tests\DeviceFundamentals.).

디바이스 기본 사항 안정성 테스트의 하위 집합은 VBScript를 사용하여 작성되었습니다. 메모장을 사용하여 이러한 스크립트 파일을 열 수 있습니다. 스크립트는 WDK를 설치한 후 지정된 폴더에 있습니다.

WDK를 사용한 디바이스 기본 사항 테스트 문제 해결

WDK를 사용하여 디바이스 기본 사항 테스트를 실행할 때 발생할 수 있는 문제를 해결하기 위한 방법을 제안합니다.

Device.DevFund 테스트