디바이스 기본 사항 테스트
이 섹션의 내용
| 항목 | Description |
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CHAOS(동시 하드웨어 및 운영 체제) 테스트는 다양한 PnP 드라이버 테스트, 장치 드라이버 퍼지 테스트 및 전원 시스템 테스트를 동시에 실행합니다. |
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디바이스 기본 검사 테스트는 지정된 디바이스에 대한 드라이버 스택을 입력하거나 종료하는 다양한 I/O 요청 패킷(IRP)을 모니터링하고 보고합니다. 검사 테스트의 데이터는 드라이버 테스트 및 확인 중에 적용 범위 약점을 식별하는 데 도움이 될 수 있습니다. |
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CpuStress 테스트는 다양한 프로세서 사용률 수준으로 디바이스 I/O 테스트를 수행합니다. |
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드라이버 설치 테스트 범주에는 설치 기능을 테스트하기 위해 드라이버를 여러 번 제거하고 다시 설치하는 테스트가 포함됩니다. 테스트는 각 다시 설치 후 드라이버 및 디바이스에 대한 I/O 테스트를 시작합니다. 테스트는 디바이스 드라이버 또는 디바이스를 설치하고 다시 설치해야 하는 최종 사용자의 전반적인 환경을 개선하도록 설계되었습니다. |
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디바이스 기본 사항 I/O 테스트는 지정된 디바이스에서 기본 I/O 테스트를 수행합니다. |
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디바이스 기본 사항 침투 테스트는 보안 테스트의 중요한 구성 요소인 다양한 형태의 입력 공격을 수행합니다. 공격 및 침투 테스트는 소프트웨어 인터페이스의 취약성을 식별하는 데 도움이 될 수 있습니다. |
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디바이스 기본 사항 PnP 테스트는 드라이버가 거의 모든 PnP IRP를 처리하도록 강제합니다. 그러나 특히 강조되는 세 가지 영역은 제거, 리밸런스 및 기습 제거입니다. PnP 테스트는 이들 각각을 개별적으로 테스트하거나 모두 함께 테스트하는 메커니즘(즉, 스트레스 테스트)을 제공합니다. 이 PnP 테스트는 사용자 모드 API 호출(테스트 애플리케이션을 통해) 및 커널 모드 API 호출(상위 필터 드라이버를 통해)의 조합을 사용하여 수행됩니다. |
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디바이스 기본 사항 다시 부팅 테스트는 시스템을 다시 시작하기 전과 후에 또는 다시 시작하는 동안 지정된 디바이스에서 I/O를 실행합니다. |
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디바이스 기본 사항 절전 모드 테스트는 시스템 절전 모드 상태 전환 전후 또는 전환 중에 지정된 디바이스에서 I/O 및 PnP 작업을 실행합니다. 절전 모드 테스트는 테스트 중인 디바이스가 지원되는 모든 절전 모드 상태를 통해 시스템을 순환할 수 있도록 허용합니다. 또한 단순 I/O 스트레스 테스트를 통해 이러한 상태가 변경된 후에도 디바이스가 계속 작동하도록 합니다. |