CPUStress 테스트(디바이스 기본 사항)
CpuStress 테스트는 다양한 프로세서 사용률 수준으로 디바이스 I/O 테스트를 수행합니다.
CpuStress
| 테스트 | 설명 |
|---|---|
프로세서 사용률 수준을 번갈아 사용하는 디바이스 I/O |
이 테스트는 HPU(높음)와 낮은(LPU) 프로세서 사용률 수준을 번갈아 가며 디바이스 I/O 테스트를 수행합니다. 테스트 바이너리: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 테스트 방법: Device_IO_With_Varying_ProcUtil 매개 변수: - 디바이스 기본 사항 테스트 매개 변수 참조 DQ PingPongPeriod HPU LPU TestCycles |
고정된 프로세서 활용 수준에서의 디바이스 I/O |
이 테스트는 고정 백분율로 설정된 PU(프로세서 사용률) 수준으로 디바이스 I/O 테스트를 수행합니다. 테스트 바이너리: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 테스트 방법: Device_IO_With_Fixed_ProcUtil 매개 변수: - 디바이스 기본 사항 테스트 매개 변수 참조 DQ I/O 기간 PU |
디바이스 PNP 고정 프로세서 사용률 수준으로 |
이 테스트는 고정 백분율로 설정된 PU(프로세서 사용률) 수준으로 디바이스 PNP 테스트를 수행합니다. 바이너리 테스트: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc Test 방법: Device_PNP_With_Fixed_ProcUtil 매개 변수: - 디바이스 기본 사항 테스트 매개 변수 참조 DQ TestCycles PU |
프로세서 사용률 고정 상태로 대기 모드 |
이 테스트는 프로세서 사용률이 고정된 백분율로 설정된 다양한 절전 모드 상태를 통해 시스템을 순환합니다. 테스트 이진: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 테스트 메서드: Sleep_With_Fixed_ProcUtil 매개 변수: - 디바이스 기본 사항 테스트 매개 변수 참조 TestCycles PU |
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