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Windows HLK を使用した Device Fundamentals 信頼性テストのトラブルシューティング

  • [アーティクル]

この記事では、Windows ハードウェア ラボ キット (Windows HLK) のデバイスの基礎信頼テスト時に発生する可能性がある問題のトラブルシューティング方法について説明します。 Windows HLK テストのエラーのトラブルシューティングを参照してください。

デバイスの基礎信頼性テストのトラブルシューティングは、次の主要な手順で構成されます:

  1. [デバイスの構成] ダイアログで、以下を行います

  2. テスト エラーの種類を特定する

  3. テスト エラーをトリアージします

次のセクションでは、失敗したデバイスの基礎信頼性テストのトラブルシューティングに使用できる、さらに詳細で重要な情報を提供します:

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 ダイアログで、デバイスの構成を行います

デバイスの基礎信頼性テストでは、I/O をテストするようにテスト デバイスを適切に構成する必要があります。 テストを開始する前に 「Device.Fundamentals 信頼性テストの前提条件」で説明されているテストの前提条件にテスト構成が準拠していることを確認します。 これらの前提条件を満たしていなき場合、テスト エラーが発生する可能性があります。

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 テスト エラーの種類を特定する

特定の種類のテスト Windows特定するには、「HLK テスト エラーのトラブルシューティングWindows HLK テスト エラーのトラブルシューティング」を参照してください。

テストでエラーをログに記録する

Windows HLKでデバイスの基礎の信頼性テストで失敗する最も一般的な方法は、テストでエラーをログに記録する方法です。 失敗したテストでエラーがログに記録された場合は、このトピックの「 トリアージ テスト エラー 」セクションに進む事をお勧めします。

システムのバグ チェックをテストする

システム バグ チェックは、テストの性質 (ストレス、信頼性、コンカレンシーなど) により、デバイス基礎の信頼性テスト中によく見られます。

システム バグ チェックによって発生したエラーを調査する場合は、テスト システムをカーネル デバッガーに接続してテストを再実行することを強くお勧めします。 デバッガーを使用してテストを実行すると、システムのバグチェック時にシステムがデバッガーに割り込みます。

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　テストハング

テストハングは、デバイス基礎の信頼性テスト中に頻繁に発生します。 通常、テストハングは、I/O 要求パケット(IRP) (通常I/O および PNP IRP) がドライバーでスタックし、テストの進行を妨げるときに見られます。

Note

Windows HLK は最終的に取り消され、ハングしたテストに失敗して、次のスケジュールされたテストを続行できます。

テストがハングする場合は、テスト システムをカーネル デバッガーに接続してテストを再実行することを強くお勧めします。 これにより、テストがハングした時点でデバッガーに割り込み、テスト プロセスのスタック トレースを検査できます (Device Fundamentals 信頼性テストは通常、te.processhost.exeまたはte.exeとして実行されます。

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　テスト エラーをトリアージします

テスト ドキュメントを確認する

Device Fundamentals 信頼性テストでは、通常、I/O を使用したスリープ、I/O を使用した PNP、I/O による再起動などの一般的なユーザー シナリオをテストします。 Device.DevFund テストの適切なテスト ドキュメントを確認して、失敗したテストのテスト中のシナリオを完全に理解することをお勧めします。

テスト ログを徹底的に確認する

実際のエラー メッセージの前にあるログ エントリを十分に確認して、現在のテスト シナリオと実行された以前のテスト シナリオを明確に理解する必要があります。 (合格した場合でも) 実行された以前のテスト シナリオが、次のテスト シナリオに影響を与える場合があります。 たとえば、デバイスを無効にし、有効にした後に I/O エラーが発生する可能性があります。 テスト ログの確認の詳細については、「ログ ファイルの確認 を参照してください

コピーされた追加のログ ファイルを確認する

デバイス基礎の信頼性テストでは、多くの場合、テスト エラーのトリアージに役立つ追加のファイルがコピーされます。 たとえば、再インストールテストと PNP テストでは、 テスト システムから SetupAPI ログがコピーバックされます。 Windows HLK Studio の [結果] タブの [追加ファイル] で、すべての確認する必要があります。 テスト結果を右クリックし、 [追加ファイル] を選択します。

WDTF トレースを収集して表示する

特定のテスト エラーのトラブルシューティングを行う場合は、WDTF トレースを収集して表示すると便利です。 WDTF トレースを収集およびWindowsする方法については、「Device Testing Framework (WDTF)トレースの収集と表示」を参照してください。

ヘルプを表示する方法

Microsoft の デバイス基礎の信頼性テスト所有者は、Windows Hardware Testing and Certification Forum で デバイス基礎テストの失敗に関する投稿された質問を定期的に確認して回答します。 必要なサポートを受け取る場合は、このフォーラムを使用することをお勧めします。

テストエラーを調査するサポート ケースを開く方法については、「Windows HLK サポート」を参照してください。

その他のリソース

次の表に、デバイスの基礎テスト中に発生する可能性のある問題を解決するのに役立つその他のリソースを示します。

リソース 説明

Windows HLK 環境のトラブルシューティング

Windows HLK インフラストラクチャの障害に関する一般的なトリアージ とトラブルシューティングのサポート。

Windows HLK テストのエラーのトラブルシューティング

テスト エラーを調査するための一般的なトリアージとトラブルシューティングのガイダンス。

WDTF ベース テストのトリアージ

WDTF ベースのテストによってログに記録されるエラーのトラブルシューティングに関する一般的なガイダンス。

Device Fundamental テストを選んで構成する方法

Device Fundamentals 信頼性テストは、Windows Driver Kit (WDK) にも付属しています。 ドライバー開発者は、WDK を使用し、Microsoft Visual Studioテストを実行してテストの失敗を調査することを好む場合があります。 このページでは、WDK を使用してテストを実行する方法について説明します。

%ProgramFiles%\Windows Kits\8.1\Testing\Tests\Additional Tests\DeviceFundamentals.)。

Device Fundamentals 信頼性テストのサブセットは、VBScript を使用して記述されます。 これらのスクリプト ファイルは、 メモ帳を使用して開きます。 スクリプトは、WDK をインストールした後、指定したフォルダーにあります。

WDK を使った Device Fundamental テストのトラブルシューティング

このトピックでは、WDK を使って Device Fundamental テストを実行したときに発生する可能性のある問題の解決策について提案を提供します。

Device.DevFund テスト