sample_l (sm4 - asm)
使用指定的位址和指定取樣器所識別的篩選模式,從指定的元素/紋理取樣資料。
sample_l[_aoffimmi (u,v,w) ] dest[.mask], srcAddress[.swizzle], srcResource[.swizzle], srcSampler, srcLOD.select_component |
---|
項目 | 描述 |
---|---|
dest |
[in]作業結果的位址。 |
srcAddress |
[in]一組紋理座標。 如需詳細資訊,請參閱 範例 指示。 |
srcResource |
[in]紋理暫存器。 如需詳細資訊,請參閱 範例 指示。 |
srcSampler |
[in]取樣器暫存器。 如需詳細資訊,請參閱 範例 指示。 |
srcLOD |
[in]LOD。 |
備註
此指令與 範例相同,不同之處在于,LOD 是由應用程式直接提供為純量值,表示沒有等向性。 此指示適用于所有可 Progammable 著色器階段。
sample_l 使用 srcLOD 做為 LOD 的紋理取樣。 如果 LOD 值為 < = 0,則會選擇 (最大的地圖) ,如果根據篩選模式) 適用,則會套用放大篩選器 (。 由於 srcLOD 是浮點值,因此如果 minify 篩選準則為 LINEAR 或具有等向性篩選,則會使用小數值在兩個 mip 層級之間插補。
sample_l 忽略位址衍生專案,因此篩選行為只是等向性。 因為會忽略衍生專案,所以等向性篩選會以等向性篩選方式運作。
接受取樣器狀態 MIPLODBIAS 和 MAX/MINMIPLEVEL。
在圖元著色器中使用時, sample_l 表示 LOD 的選擇是每圖元,而鄰近圖元沒有任何作用,例如在相同的 2x2 戳記中。
從沒有任何系結的輸入位置擷取會針對所有元件傳回 0。
本指示適用于下列著色器階段:
頂點著色器 | 幾何著色器 | 像素著色器 |
---|---|---|
X | X | x |
最小著色器模型
下列著色器模型中支援此函式。
著色器模型 | 支援 |
---|---|
著色器模型 5 | 是 |
著色器模型 4.1 | 是 |
著色器模型 4 | 是 |
著色器模型 3 (DirectX HLSL) | 否 |
著色器模型 2 (DirectX HLSL) | 否 |
著色器模型 1 (DirectX HLSL) | 否 |