共用方式為


針對 Device.Connectivity 測試進行疑難排解

若要針對 PCI 裝置、USB 裝置或 USB 中樞連線測試的問題進行疑難排解,請遵循下列步驟:

  1. 檢閱:

  2. 確認您已安裝最新的 Windows HLK 篩選和套件更新。 如需詳細資訊,請參閱 Windows 硬體實驗室套件篩選器

  3. 如需測試失敗,請在 Windows HLK Studio 測試記錄中尋找可用的資訊。 如果您找到可用的資訊,請解決問題,然後重新執行測試。

  4. 如果您無法取得成功的測試結果,請連絡 Windows HLK 支援

Windows 7 的 USB 連線測試相關資訊

將裝置連線到 USB 2.0 中樞的優點如下:

  • 我們建議針對一般 USB 裝置使用此連線。

  • USB 選擇性暫停測試需要此連線。 如需詳細資訊,請參閱 USB 內部裝置閒置測試 - 相容性

  • 此連線會強制增強主機控制器介面 (EHCI) 高速控制器來列舉低速和全速裝置。

將裝置連線到 USB 2.0 中樞的缺點如下:

  • 具有內嵌中樞的裝置必須直接連線以進行認證測試。

  • 不建議使用多 TT (交易翻譯工具) 中樞進行認證測試。

當您測試具有內嵌高速中樞的裝置時,請直接將裝置連結至系統以進行所有測試。

Device.Connectivity 測試

針對 Windows HLK 進行疑難排解