如何使用 Acoustic Measurement Tool 來測量觸控向下延遲
本文說明使用原音測量工具來測量觸控硬體觸控延遲的詳細設定和程式。 預期的物件是測試人員，這些測試人員會測量 Windows Hardware Lab Kit (Windows HLK) 所需觸控裝置的觸控延遲。
本文假設讀者熟悉觸控式螢幕、瞭解觸控式螢幕延遲的概念，以及對電子和軟體工程有基本的瞭解。
此資訊適用于Windows 8作業系統。
Windows 硬體實驗室套件需求
您必須至少安裝 Windows Hardware Lab Kit (Windows HLK) 的最低設定。 Windows HLK 提供工具、程式和測試，以建立和上傳提交套件來認證裝置和系統。 Windows HLKeliminate 需要外部工具，例如 WLK 記錄檢視器。 本檔假設您已熟悉 Windows HLK。
如需如何安裝 Windows HLK 的指示，請參閱Windows HLK 消費者入門。
Windows HLK Studio
您可以在 Windows HLK 測試控制器上執行 Windows HLK 測試管理主控台 Windows HLK Studio 。 探索到觸控硬體時，觸控測試會顯示在 Windows HLK Studio 中。 Windows HLK Studio 可讓您將測試組織成專案、檢視與裝置相關聯的功能和測試、執行選取的測試，以及建立提交套件。
獨立測試
您可以使用 Windows HLK Studio 略過，並直接在測試電腦上執行測試。 不過，您必須具備 Windows HLK 控制器的存取權，才能執行此動作。
若要以獨立模式手動執行測試，您必須將下列檔案從 Windows HLK 控制器複製到本機資料夾：
audiotouch.exe
wlklogannotation.dll
WTTLog.dll
測試硬體需求
若要執行本文所述的測試，除了 Windows HLK 控制器和測試電腦之外，您還必須具備本節所述的硬體。
觸控原音測量工具
觸控聲場測量工具組含聲場感應器 (麥克風) 、金屬板、 (針腳) 和控制方塊，如圖 1 觸控原音測量工具所示。
圖 1 觸控原音測量工具
控制方塊具有下列三個控制開關和電源開關。
馬達：馬達不會用於觸控向下延遲測量。 將它切換為 OFF。
校正：校正開關會開啟和關閉金屬板訊號。 當您執行校正時，請開啟校正。
模式：您可以在 Tachometer (Tach) 模式之間切換，這是指用於移動流覽延遲測量的相片中斷點，以及 麥克風 (麥克風) 模式，用於觸控向下延遲測量。
圖 2 Triex RA 工具介面
圖 3 ITRI RA 工具介面
針對向下觸控延遲測量，您應該一開始設定參數，如下表所示：
| Switch | 狀態 |
|---|---|
電源 |
OFF |
運動神經 |
OFF |
校準 |
開啟 |
[模式] |
麥克風 |
注意
將 USB 插入測試電腦之後，您必須開啟控制方塊電源。 如果您在開啟控制方塊後將 USB 插入測試電腦，則不小心會將微控制器設定為無法預測的狀態。
外部鍵盤
如果您使用平板電腦裝置執行測試，則必須使用外部鍵盤來執行測試程式。
校準
校正測試階段會使用微控制器的計算頻率。 在這個階段中，微控制器的高解析度時間戳記會計算音效波的延遲。
藉由比較主測試電腦和微控制器的兩個間隔，即可計算第一次點選的時間頻率。 音訊訊號的上下脈衝有一毫秒的硬式編碼訊號持續時間，鎖定期間為 1000 毫秒，在此期間不會傳送其他音訊訊號給測試程式。 此鎖定可防止震動的音效波扭曲測試結果。 請務必不要按兩下或點選太快：點選之間至少等候兩到三秒。
聲波延遲是觸碰金屬板的測試杆 (此觸控幾乎不會產生任何延遲) ，以及感應器透過音效波偵測觸控。 平均而言，延遲不應超過一毫秒。 如果您看到超過兩毫秒的校正延遲，則必須讓測試失敗並調查失敗的原因。
校正設定
執行下列步驟來設定測試元件以進行校正。
設定用於校正的測試元件
將微控制器連接到電腦。
將控制方塊的 [電源] 切換為 [開啟]。 控制項方塊的設定應如下所示：
Switch 狀態 電源
開啟
運動神經
OFF
校準
開啟
[模式]
麥克風
At this point, you can touch the screen and move the machine. You can also use the side nut to move the microphone.
從 Windows HLK 控制器上的 Windows HLK Studio 執行觸控延遲測試，或在測試電腦上執行獨立測試 audiotouch.exe 。
重要
此測試需要非常無訊息的環境，才能取得精確的結果。
The instruction **Press the space bar to start the calibration process.** displays.
例如，將麥克風放在畫面 (的一端，例如左上角) 。 使用黑色 knob 來降低麥克風，使其實際觸碰螢幕。
例如，將金屬板放在畫面最遠點的麥克風 (，例如，位於右下角) 。 如果金屬板未保持原狀，您可以在另一手點選時使用一個手來按住一端的分色板。
按空格鍵。 [校正] 一字隨即顯示。
校正步驟
使用測試針腳來輕觸並按住大約十倍的金屬板。 請注意，在金屬板上點選太硬，可能會導致金屬板與杆之間的震動;我們建議您稍微點選並按住幾秒。 請勿將滑杆滑到金屬板或點兩下：這些動作會產生失真而扭曲測試結果的雜訊。
圖 4 測試針腳和金屬板 示範如何將金屬針腳按住到金屬板上。
圖 4 測試針腳和金屬板
校正測試預期的結果
微控制器頻率應該在第一次點選時顯示;例如，「時鐘已同步處理。 微控制器 = < 傳回值的頻率「，其中 < 傳回的值 >> 是校正結果。 針對後續點選，關於音效波延遲顯示的訊息;例如，[12] 校正延遲：1.2 [ms]。
收集
校正完成後，再次按空格鍵以收集點選延遲資料。
測試程式會計算硬體觸控延遲，方法是計算透過微控制器報告之觸控所建立的聲波差異，以及 Windows WM_POINTER訊息偵測到的觸控事件。 除了透過微控制器轉換的延遲，聲波到達受測電腦之前，還需要有一些延遲，才能到達麥克風。 不過，校正步驟的設計目的是測量最差的案例延遲;如果平均顯示少於兩毫秒的延遲，則此延遲不會影響 25 毫秒的整體觸控延遲需求。
集合設定
執行下列步驟來設定集合的測試元件。
設定集合的測試元件
將模式變更為 Tach 設定。
將 [校正] 切換為 [關閉]。 設定應如下所示：
Switch 狀態 電源
開啟
運動神經
OFF
校準
OFF
[模式]
轉速計
從螢幕移除金屬板。
幾乎將畫面分成六個隨機區域，以準備統一涵蓋所有六個區域。 任何兩個區域中樣本計數的差異不能超過 10%;也就是說，如果您針對所有區域點選 500 次，則任何單一區域不能點選超過 90 次。 這可確保每個區域的延遲在最終平均延遲中平均表示。
如果您打算在涵蓋每個區域時移動麥克風，請將麥克風放在您打算點選的第一個區域中。
或者，您可以將麥克風放在中央區域附近 (，例如在 圖 5 區域) (2，1) 和 (2，2) 之間。 在此情況下，您必須至少移動麥克風一次，才能同時涵蓋麥克風的原始位置。
圖 5 區域
集合步驟
使用下列步驟來執行集合。
執行收集步驟
開啟 [麥克風] 或 [原音] 開關。
使用手指在靠近麥克風的螢幕上快速且穩固地點選。 請勿點選並按住：請快速點選並放開，以產生不同的音效。
點選之後至少等候兩到三秒。 延遲結果應該會顯示;例如， [10] 延遲：11.2 [ms]。
隨機點選麥克風周圍的螢幕。 點選之間一律至少暫停兩到三秒。
重複步驟 1-3 以涵蓋畫面的所有區域。
注意
上述索引 (例如 ，在 [10] 延遲的情況下為 [10] 延遲：11.2 [ms]) ，不是測量的實際計數：它是透過微控制器從麥克風接收的聲場訊號索引。 索引不一定會以一個遞增的方式變更;如果點選之間察覺到雜訊，它可以以兩個或多個遞增的方式變更。 確保點選 500 次的最佳方式是點選超過所需的 10-20% 倍;也就是說，點選 550 次或 600 次。
集合期望
畫面會顯示硬體觸控延遲。 例如， [10] 延遲：12.2 [ms]。
分析和報表
測試程式會報告校正和時鐘同步處理錯誤，如此一來，如果發生錯誤，您可以重新執行測試或找出失敗的原因。
平均延遲是透過 Windows HLK Studio 回報。 如果您執行獨立測試，您可以在 TabletDigitizerOPK.wtl 檔案中開啟 Windows HLK Studio、記事本或其他文字檢視器應用程式中的檔案，以檢視延遲報告。
特殊處理
測試程式可與抗拒裝置搭配運作良好;不過，兩種類型的裝置需要特殊處理。 這些是 光學裝置 和 弱式裝置。
光學裝置
您可能無法直接將麥克風放在光學裝置畫面上，因為裝置會偵測到放置本身為觸控或點選。 若要測試光學裝置，建議您使用下列其中一種方法：
將麥克風放在邊框或框架上：如果畫面或邊框固定連接到螢幕 (這是大部分裝置) 的情況，您可以在畫面上點選螢幕時將麥克風放在畫面上。 雖然螢幕和框架是由不同的材質所組成，因此可能會有稍微不同的延遲，但差異會略過。
將麥克風放在掃描線的正上方：您可以將麥克風放在螢幕) (~2-3 公釐的雷射掃描線上方，然後遵循針對不穩定裝置所述的測試程式。
注意
您可能必須實驗以尋找掃描行。
不穩定的裝置
對於某些裝置，特別是原型階段中的裝置，將麥克風放在螢幕上可能會產生准刪除觸控或其他不想要的行為。 在此情況下，請將麥克風放在螢幕正上方，並在麥克風與螢幕之間保留大約一公釐的間距。 請確實點選螢幕，讓音效波到達麥克風。 針對此測試，您應該比執行麥克風附加至畫面的測試更緊密。
注意
不建議部分觸控螢幕，因為它會產生震動。
疑難排解
校正錯誤
您有時可能會在校正期間看到非常大的延遲數位。 最有可能造成大量延遲數位的原因是您未在整個測試中正確點選並按住。 金屬板震動和其他原音事件可能會產生一個以上的觸控事件。
集合錯誤
您可以在測試期間遇到數種錯誤。 最常見的錯誤是裝置無法達到最低觸控延遲目標 25 毫秒。 第二個常見的錯誤是您未點選點選的最小數目， (500) 。
第三種類型的錯誤是當微控制器的時鐘在測試期間漂移時。 在此情況下，顯示的錯誤訊息為：ERROR：微控制器的頻率變更超過 2%。
若要偵測時鐘是否已漂移，測試程式會比較兩個時鐘頻率：
當測試人員點選金屬板時，會在校正階段期間取得初始時鐘頻率。
目前的時鐘頻率是從集合時間戳記取得，方法是使用最後一個和第一個時間戳記之間的差異。
如果初始和目前頻率之間存在超過 2% 的差異，測試就會失敗。 在此情況下，您必須重新執行測試。
支援
如果需要額外的支援，請連絡下列其中一個經過認證的 Jig 廠商：
Triex Technologies， Inc.
+1 (206) 940-0943
工業技術研究機構
+886 (03) 5743887