多埠磁片效能測試 (標誌)
此測試會根據命令傳遞所使用的埠,確認磁片磁碟機不能提供不同的行為或效能降低。
測試詳細資料
規格 |
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平台 |
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支援的版本 |
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預期的執行時間 (以分鐘為單位) | 10 |
類別 | 基準測試 |
以分鐘為單位的逾時 () | 600 |
需要重新開機 | false |
需要特殊設定 | true |
類型 | automatic |
其他檔
此功能區域中的測試可能會有其他檔,包括必要條件、設定和疑難排解資訊,可在下列主題中找到 () :
執行測試
執行測試之前,請先完成您正在測試之 Raid 儲存體陣列類型的測試設定。 如需詳細資訊,請參閱 硬碟機測試必要條件 和 SCSI 主機殼服務 (SES) 裝置測試必要條件。
疑難排解
如需 HLK 測試失敗的一般疑難排解,請參閱 針對 Windows HLK 測試失敗進行疑難排解。
疑難排解最相關的記錄是 diskIO.wtl 和 multiportperf.log.wtl。
請確認:
您的測試環境已設定好,讓兩個 HBA 埠從測試電腦連線到存放裝置目標 (主機殼裝置) 。
您已在 HLK Studio 的 [選取範圍] 索引標籤中選取 MPIO 虛擬 LUN。
您在 HLK Studio 的 [ 選取範圍 ] 索引標籤中選取的磁片已上線。
如需一般儲存體疑難排解資訊,請參閱 針對 Device.Storage Testing 進行疑難排解。
詳細資訊
這項測試會檢查主機殼磁片的效能不會透過不同的埠降級。 若要這樣做,我們假設主機殼裝置端的 LUN 具有相同的組態,而來自存放裝置陣列的每個埠都與伺服器上的 HBA 埠有相同的連線。 測試會尋找不同 HBA 埠所連線相同磁片的不同磁片實例。 然後它會收集讀取/寫入/驗證循序和隨機輸送量效能資料,並將它們與不同的磁片實例進行比較。 如果效能降低 10%,測試就會失敗。
命令語法
命令選項 | 描述 |
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multiportperf.exe -lun [StorageDriveNumber] |
執行測試 |
注意
如需此測試二進位檔的命令列說明,請輸入 /h。
檔案清單
檔案 | 位置 |
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multiportperf.exe |
< [testbinroot] >\nttest\DRIVERSTEST\storage\wdk\ |
diskio.exe |
< [testbinroot] >\nttest\DRIVERSTEST\storage\wdk\ |
storagedevices.dll |
< [testbinroot] >\nttest\DRIVERSTEST\storage\wdk\ |
參數
參數名稱 | 參數描述 |
---|---|
LLU_NetAccessOnly | 用來存取測試檔案共用的使用者帳戶。 |
LLU_LclAdminUsr | 用來執行測試的使用者帳戶。 |
WDKDeviceID | 要測試之裝置的實例路徑 |
StorageDriveNumber | 磁片編號 EX: 1 |
DiskDeviceObjLink |