精簡布建效能測試 - 原始磁片 (標誌)
此測試會驗證具有精簡布建功能的目標裝置是否符合 Windows 需求。
注意
此測試適用于針對原始硬碟執行的測試。 精簡布建效能測試 - 原始磁片 (標誌) 透過原始磁片收集效能資料。
測試詳細資料
規格 |
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平台 |
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支援的版本 |
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預期執行時間 (分鐘) | 90 |
類別 | 基準測試 |
) 分鐘 (逾時 | 5400 |
需要重新開機 | false |
需要特殊設定 | false |
類型 | automatic |
其他檔
此功能區域中的測試可能會有其他檔,包括必要條件、設定和疑難排解資訊,可在下列主題中找到 () :
執行測試
執行測試之前,請完成測試設定,如測試需求中所述: 硬碟測試必要條件。
此外,在執行測試之前,請建立精簡布建的 LUN 和完整的布建 LUN,並確定這兩個 LUN 都是線上初始化的原始磁片。 將精簡布建 LUN 的臨界值設定為 70%。
疑難排解
如需 HLK 測試失敗的一般疑難排解,請參閱 針對 Windows HLK 測試失敗進行疑難排解。
如需疑難排解資訊,請參閱 針對 Device.Storage Testing 進行疑難排解。
錯誤 | 描述/因應措施 |
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精簡布建 LUN 或完整布建的 LUN 輸送量為 0.000000 |
如果記錄檔顯示精簡布建的 LUN 和/或完整布建的 LUN 讀取/寫入輸送量為 0.000000,則 LUN 可能會離線。 檢查精簡/完整布建的 LUN,以確定它們在測試執行時都處於線上狀態。 |
精簡布建的 LUN 輸送量小於 90% 的完整布建 LUN |
如果記錄檔顯示精簡布建的 LUN 讀取/寫入輸送量小於 90% 的完整布建 LUN,請檢查精簡布建的 LUN IO 實作。 精簡布建的 LUN 應該具有與完整布建 LUN 類似的輸送量。 |
找不到特定系統事件 |
如果記錄檔顯示測試找不到特定事件,請檢查 [規劃和部署精簡布建] 中的閾值通知事件和永久資源耗盡事件的實作 (/previous-versions/windows/it-pro/windows-server-2012-R2-and-2012/jj674351 (v=ws.11) ) 。 |
測試失敗,但記錄沒有失敗 |
請確定您在測試執行時以系統管理員身分登入 HLK 用戶端電腦。 |
詳細資訊
效能測試會執行壓力測試來收集效能資料。 精簡布建 LUN 的整個效能 IO 不應低於完整布建 LUN 的 90% IO 輸送量效能。 目前,如果測試失敗,標誌測試就不會失敗。
效能測試必須透過精簡布建的 LUN 和完整布建 LUN 來執行 DiskIO 測試,以收集統計資料資料。 它會針對這兩個 LUN 執行循序讀取/寫入/驗證 IO 和隨機讀取/寫入/版本 IO 作業。 在每次寫入之後,測試會取消對應或格式化 LUN。 測試會啟動程式來執行 DiskIOV2.exe 並剖析 xml 檔案以收集資料。 在每個回合測試之後,測試會檢查是否有任何系統事件可達到臨界值通知。
測試也會檢查系統事件,以取得臨界值通知和效能資源耗盡。 已檢查下列事件:
事件識別碼 | 資訊 |
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144 |
閾值通知 (不含額外資訊) |
145 |
閾值通知 (不含特定資訊) |
146 |
閾值通知 (含有已使用的 LUN 容量與可用的 LUN 容量資訊) |
147 |
閾值通知 (含有已使用的 LUN 容量與可用的集區容量資訊) |
148 |
閾值通知 (含有已使用的集區容量與可用的 LUN 容量資訊) |
149 |
閾值通知 (含有已使用的集區容量與可用的集區容量資訊) |
150 |
永久資源耗盡事件 |
這是僅限通過的測試。 即使磁片 (精簡布建的 LUN 或完整布建的 LUN) 離線,也不會發生錯誤。 測試只會列印資訊,以協助您維護精簡布建 LUN 的效能。
命令語法
命令選項 | 描述 |
---|---|
Thinprovision.exe /scenario performance /thindisk: [TPDiskDeviceObjLink] /fulldisk [FPDiskDeviceObjLink] /logo |
執行測試。 |
注意
如需此測試二進位檔的命令列說明,請輸入 /h。
檔案清單
檔案 | 位置 |
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DiskIO.exe |
< [testbinroot] >\nttest\DRIVERSTEST\storage\wdk\ |
FillVolume.exe |
< [testbinroot] >\nttest\DRIVERSTEST\storage\wdk\thinprovision\ |
StorageDevices.dll |
< [testbinroot] >\nttest\\DRIVERSTEST\storage\wdk\ |
Thinprovision.exe |
< [testbinroot] >\nttest\DRIVERSTEST\storage\wdk\thinprovision\ |
參數
參數名稱 | 參數描述 |
---|---|
WDKDeviceID | |
TPDiskDeviceObjLink | 精簡布建的 LUN |
FPDiskDeviceObjLink | 完整布建的 LUN |
LLU_NetAccessOnly | |
LLU_LclAdminUsr | |
破壞性 | (0,1) 0=被動,1=破壞性 |