混合式直接快快閃記憶體取測試
此測試會在寫入快閃時檢查磁片磁碟機的行為。 這可確保在低電源案例中,磁片不會花費時間不需手動啟動磁片磁碟機。 測試會針對每個優先順序) 執行 (:使用STANDBY_IMMEDIATE命令在等候之後向下微調磁片,請檢查以確定磁片已關閉。 以優先順序寫入磁片:讀取剛寫入的相同資料。 檢查電源狀態,以查看它仍然關閉。 檢查以確定沒有任何 I/O 似乎產生微調 (2 秒 I/O) 這會迴圈,並從 256 KB 開始重複寫入,從 256 KB 開始,在相同的開始位移上增加至 1 MB 的 32 MB 區塊。
測試詳細資料
規格 |
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平台 |
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支援的版本 |
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預期的執行時間 (以分鐘為單位) | 60 |
類別 | 相容性 |
以分鐘為單位的逾時 () | 3600 |
需要重新開機 | false |
需要特殊設定 | false |
類型 | automatic |
其他檔
此功能區域中的測試可能會有其他檔,包括必要條件、設定和疑難排解資訊,可在下列主題中找到 () :
詳細資訊
參數
參數名稱 | 參數描述 |
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詳細程度 | 記錄輸出的詳細資訊。 0 最不詳細,4 是最詳細的 |
案例 | 測試目標為 的案例。 |
WDKDeviceID | 要測試之裝置的實例路徑。 |
LLU_NetAccessOnly | 用來存取測試檔案共用的使用者帳戶。 |
LLU_LclAdminUsr | 用來執行測試的使用者帳戶。 |
StorageDriveNumber | 要測試的裝置磁碟機號 |
疑難排解
如需 HLK 測試失敗的一般疑難排解,請參閱 針對 Windows HLK 測試失敗進行疑難排解。