新式待命壓力和長時間測試
系統設計工具應該在其新式待命系統上執行壓力測試和長時間測試，以協助找出並解決潛在的可靠性問題。 新式待命可讓系統保持執行，即使處於低功率、螢幕關閉狀態也一直執行。 此狀態與傳統 ACPI 睡眠 （S3） 和休眠狀態不同，其中大部分的系統硬體和軟體會停止，然後保持非使用中狀態，直到稍後在繼續時重新啟動為止。
新式待命可讓系統保持運作時間更長的時間，因此可能會公開僅支援 S3 和 S4 的系統上不會探索到的硬體與軟體可靠性問題。
進入和結束
每個新式待命系統都應該經過驗證，以進入並結束新式待命至少 1,000 個週期，而不會失敗。 從新式待命進入和退出是使用者與系統上低功率作業的主要互動，而且應該非常可靠。
成功進入和結束新式待命會驗證一些硬體、韌體和設備驅動器元件，其中包括：
- 管理電源按鈕作業的平台硬體，包括電源管理IC（PMIC）。
- 顯示面板管理和初始化硬體。
- Wi-Fi 和網路裝置韌體和驅動程式。
- 圖形設備驅動器。
使用 PwrTest 工具可以自動化新式待命進入和結束的壓力測試。 PwrTest 應該安裝在目標系統上，作為 Windows 驅動程式套件 （WDK） 的一部分，其中包含將新式待命系統上系統電源按鈕自動化的其他軟體。
| 測試案例 | 預期的結果 | 診斷注意事項 |
|---|---|---|
系統可以可靠地進入並結束新式待命，至少1,000個週期。 |
使用 PwrTest 工具和 /cs 命令行選項，將系統自動迴圈至新式待命 1,000 個迴圈。 預期的結果是系統會完成所有 1,000 個迴圈。 |
我們建議以累加方式將壓力測試增加至1,000個週期。 首先，測試100個迴圈。 如果發現錯誤，請將系統連線到核心調試程式和 SoC 硬體調試程式，然後重複 100 循環測試以擷取並判斷問題的根本原因。 在 100 循環測試順利完成之後，將週期計數延伸至 500 個迴圈，再延長至 1,000 個迴圈。 |
SoC 低功率狀態轉換
負責管理閑置與主動電源狀態之間SoC轉換的韌體和驅動程序必須高度可靠，才能承受現代待命中長時間運作的壓力。 SoC 低功率狀態轉換應該透過長時間的新式待命測試來強調。 此測試可協助確保系統在長時間的新式待命期間持續可靠地運作，例如週末。 此測試應在連線到 AC 電源時執行。
| 測量案例 | 預期的結果 | Power Notes |
|---|---|---|
系統可以連續 100 小時留在新式待命中，並在結束時正常運作。 系統會在 100 小時內維護 Wi-Fi 連線，Wi-Fi 聯機會在結束時運作。 |
將系統置於新式待命中，並在100小時後以電源按鈕喚醒。 預期的結果是系統可立即開啟，且Wi-Fi連線可正常運作，而不需要額外的設定或選取Wi-Fi網路。 |
建議以累加方式將長時間測試增加至100小時。 首先，測試24小時。 如果找到錯誤，請將系統連線到核心調試程式和 SoC 硬體調試程式，然後重複 24 小時測試以擷取並判斷問題的根本原因。 在24小時測試成功完成之後，將持續時間延長至100小時。 |
Windows HLK 新式待命壓力測試
Windows 硬體實驗室套件 （HLK） 包含名為 連線 待命壓力的新式待命壓力測試，具有驅動程式驗證器的並行壓力，以在設備驅動器執行裝置作業的同時，執行自動新式待命轉換。 測試的設計目的是要確認裝置及其驅動程式繼續運作，因為系統會轉換至新式待命電源狀態，並從中轉換。
這項測試是驗證系統在結束新式待命之後繼續如預期運作的重要部分。 這項測試包含在 Windows HLK 中，而且是系統認證的必要專案。
測試作業
測試會使用 Windows 裝置測試架構 （WDTF） SimpleIO 介面來練習系統上列舉的裝置。 這些裝置包括感測器、相機、音訊、圖形、Wi-Fi、儲存設備和 藍牙 裝置。 測試會將系統置於新式待命一分鐘，然後將系統從新式待命轉換，並練習裝置 30 秒。 此循環重複 150 次。
在測試執行期間，已啟用驅動程式驗證器，以協助識別驅動程式錯誤和記憶體流失。
此測試可協助識別下列系統或設備驅動器問題：
- 在新式待命會話之後，系統在裝置作業期間變得沒有回應或當機。
- 系統無法在裝置活動之後進入低功率狀態（最深層運行時間閑置平台狀態或 DRIPS）。
- 驅動程式驗證器所識別的驅動程序問題，包括系統損毀、驅動程式失敗和記憶體流失。
- 從新式待命恢復之後的驅動程序問題，包括無響應、當機或問題碼。
解決測試失敗
測試會練習多個裝置，這可能會導致不同類型的測試失敗。 識別測試失敗類型是找出系統或驅動程序問題根本原因的第一個步驟。
測試通常會在下列三種失敗模式之一中失敗：
- 測試失敗，且失敗會記錄在 Windows HLK 記錄中，其中包含所偵測到失敗的相關數據。
- 測試失敗，但系統不會因為失敗而向 Windows HLK 伺服器報告;不過，系統會響應系統，且可與本機互動搭配使用。
- 測試未完成，測試中的系統會當機或變得沒有回應（凍結在黑色螢幕上）。
偵錯 Windows HLK 記錄中記錄的測試失敗
在 Windows HLK 記錄中記錄測試失敗時，有兩種常見的失敗類型：
- 在測試期間，系統無法進入低功率狀態（DRIPS）。
- 測試偵測到它無法再與驅動程序通訊，而且發生逾時。
您可以使用包含在測試記錄中的 SleepStudy 報告，以識別哪些元件負責防止系統進入低功率狀態（DRIPS）。 有數個常見原因：
- 測試設定和設定問題，包括使用不支援 NDIS 6.3 和新式待命功能的有線乙太網路卡。
- 有線 LAN 網路上的 DHCP 伺服器問題。
- 在新式待命期間，無法正確閑置到自己的低功率模式的裝置和/或驅動程式。
測試記錄可能包含失敗訊息，指出哪些裝置未及時回應 I/O 要求。 當系統從新式待命恢復時，此條件會被視為測試失敗，因為它可以防止使用者或應用程式正常運作。
測試記錄會指出執行 I/O 作業的最後一個裝置，這些裝置是測試失敗的來源。 下列範例中的測試記錄輸出顯示 ACPI\XXXX\2&DAFA3FF&1 裝置逾時。
訊息 |
7/16/2013 上午 12：50：24.333 |
WDTF_SIMPLEIO_STRESS_PROC： - WaitAsyncCompletion（部分位置感測器裝置 ACPI\XXXX\2&DAFA3FF&1） |
訊息 |
2013/7/16 上午 12：59：50.333 |
WDTF_SIMPLEIO_STRESS_PROC： - WaitAsyncCompletion（一些其他裝置XXX_XXX\UART_XXX\3&2F829BAD&0&F00D） |
失敗的常見原因是 GPS 接收不佳，這會導致 GPS 裝置花費極長的時間回復 I/O 要求。 如需在具有 GPS 裝置的系統上執行這項測試的詳細資訊，請參閱配備 GPS 的系統附註。
沒有記錄的情況下偵錯測試失敗 （以及回應式系統）
如果受測的系統仍在執行中，且沒有測試仍在執行的跡象，最有可能的原因是系統發生嚴重錯誤或重新啟動。 若要偵錯這些問題，請檢查系統目錄是否有任何傾印檔案，並停用任何可能重設系統的硬體監視程式。
當系統沒有回應時偵錯測試失敗 （黑螢幕）
如果系統凍結在黑色螢幕上，則必須將核心調試程式連線到系統，才能診斷問題。
如果核心調試程式已經連線，而且系統未回應核心調試程式，則需要硬體調試程式來識別系統鎖定的原因。 您可以洽詢核心晶片/SoC 提供者，以取得偵錯的其他協助。
其他 HLK 檔
配備 GPS 的系統注意事項
如果受測系統具有 GPS 裝置或位置感測器裝置，必須先啟用下列 Windows 設定，才能執行測試：
- 控制台\Hardware and Sound\Location 設定\開啟 Windows 位置平臺
- 計算機 設定\Privacy\Location：讓 Windows 和應用程式使用我的位置
您可以使用 Windows 驅動程式套件 （WDK） 中的感測器診斷工具，確認在測試地點接收 GPS 訊號。 如需詳細資訊，請參閱 使用感測器診斷工具測試感測器功能。