samplepos (sm4.1 - asm)

查询样本在给定着色器资源视图或光栅器中的位置。

samplepos dest[.mask]， srcResource[.swizzle]， sampleIndex

备注

此指令返回给定资源的 sample sampleIndex 的 2D 样本位置。它仅对可以使用 ld2dms 加载的资源有效，除非将光栅器指定为 srcResource。

srcResource 可以是 t# 寄存器 (着色器资源视图) 或光栅器寄存器。

指令计算浮点矢量 (Xposition、Yposition、0、0) 。

srcResource 上的重排允许在将返回的值写入目标之前任意重排。样本位置相对于像素的中心，基于像素坐标系。

如果 sampleIndex 超出边界，则返回零向量。如果没有绑定到指定槽的资源，则返回 0。

samplepos 可用于着色器代码中的自定义解析等操作。

此指令适用于以下着色器阶段：

顶点着色器	几何着色器	像素着色器
		x

以下着色器模型中支持此函数。