D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER结构(d3dukmdt.h)

D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER 结构描述用于内核模式测试的测试命令缓冲区。

语法

typedef struct _D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER {
  union {
    D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER_COPY Copy;
    D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER_FILL Fill;
    char                          Reserved[64];
  };
  D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFEROP Operation;
  UINT                       Reserved1;
} D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER;

成员

Copy

D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFEROP_COPY 时,此字段是复制作的 D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER_COPY 结构。

Fill

D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFEROP_FILL时,此字段是填充作的 D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER_FILL 结构。

Reserved[64]

Operation

一个 D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFEROP 枚举,指定测试命令缓冲区的作类型以及要使用的特定于作的结构。

Reserved1

保留。

言论

有关详细信息,请参阅 内核模式测试

要求

要求 价值
最低支持的客户端 Windows 11 版本 24H2 (WDDM 3.2)
标头 d3dukmdt.h

另请参阅

D3DDDI_DRIVERESCAPE_BUILDTESTCOMMANDBUFFER

D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER_COPY

D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFER_FILL

D3DDDI_TESTCOMMANDBUFFEROP

DXGKARG_BUILDTESTCOMMANDBUFFER

pfnBuildTestCommandBuffer