Свойства сеанса анализа производительности
Обновлен: Ноябрь 2007
Окно Сеанс производительности позволяет пользователю настраивать параметры профилирования приложения. В нем также хранятся отчеты, созданные для сеанса. Сеанс производительности создается либо посредством запуска мастера производительности, либо вручную. Сеанс производительности отображается в обозревателе производительности после того, как был создан Сеанс производительности.
Чтобы просмотреть свойства сеанса производительности, найдите имя сеанса в окне Обозреватель производительности, щелкните его правой кнопкой мыши и выберите команду Свойства.
Ниже перечислены страницы свойств сеанса анализа производительности.
Общие
Эти параметры позволяют выбрать метод профилирования (выборка или инструментирование), добавить коллекцию объектов .NET и данные о времени существования, отобразить окно Управление сбором данных в процессе сбора данных и указать имя и местоположение файла отчета по умолчанию.
Запуск
Эти параметры позволяют выбирать двоичные файлы из списка и указывать порядок запуска двоичных файлов.
Выборка
Эти параметры позволяют выбрать событие выборки и интервал выборки при профилировании с выборкой. Событие выборки используется для сбора данных профилирования через определенный интервал времени. Например, если событием выборки являются такты процессора и для интервала выборки задано значение 10 000 000, то данные профилирования собираются через каждые 10 миллионов тактов процессора. Можно выбрать один из четырех типов событий выборки, указанных ниже.
Циклы синхронизации — для проблем, связанных с ЦП.
Ошибки страниц — для проблем, связанных с памятью.
Системные вызовы — для проблем, связанных с вводом-выводом.
Счетчики производительности — для проблем производительности нижнего уровня.
На основе доступных счетчиков производительности можно определять дополнительные события выборки.
Двоичные файлы
Эти параметры позволяют указать, следует ли переместить инструментированный двоичный файл в другое местоположение. Например, если при профилировании файла My.DLL не требуется перемещать инструментированный двоичный файл, то создается резервная копия файла My.DLL с именем My.Orig.DLL. Затем в файл My.DLL вставляются зонды для сбора данных. Если пользователь решит переместить инструментированный двоичный файл, то исходный двоичный файл не переименовывается, а инструментированный двоичный файл копируется в указанное местоположение.
Инструментирование
Эти параметры позволяют указать любые События до инструментирования и События после инструментирования, которые должны происходить до или после процесса инструментирования.
Счетчики ЦП
Эти параметры позволяют собирать данные счетчиков производительности ЦП. Переносимые счетчики производительности доступны независимо от архитектуры и изготовителя ЦП.
Платформозависимые события относятся к конкретным архитектурам и изготовителям ЦП. Дополнительные сведения об аппаратных счетчиках производительности в соответствующей документации по процессору.
События Windows
Во время профилирования можно собирать данные от поставщиков трассировки событий. Просматривать эти данные можно с помощью параметра /calltrace средства командной строки VSPerfReport.exe. Дополнительные сведения о трассировки событий Windows см. в статье О трассировке событий. Дополнительные сведения о средстве VSPerfReport.exe см. в разделе VSPerfReport.
Счетчики Windows
Этот параметр позволяет собирать данные счетчиков монитора производительности Windows. Чтобы собирать эти данные, установите флажок Сбор счетчиков производительности Windows. Интервал сбора можно указать в поле Интервал сбора. Можно также задать параметры Категория счетчика и Экземпляр. Доступны некоторые счетчики монитора производительности Windows по умолчанию.
Дополнительно
Эти настройки позволяют добавлять параметры процесса инструментирования, указывая один или несколько параметров средства профилирования VSInstr из командной строки. Например, чтобы ограничить профилирование до функции MyFunction, введите команду -include:MyFunction в текстовом поле Дополнительные параметры инструментирования.
См. также
Другие ресурсы
Обзоры (средства профилирования)