CPUStress Tests (Fundamentos do dispositivo)

Artigo
03/07/2025

Os testes CpuStress executam testes de E/S de dispositivos com diferentes níveis de utilização do processador.

CpuStress

Teste	Descrição
E/S de dispositivo com níveis alternados de utilização do processador	Este teste faz testes de E/S de dispositivos enquanto alterna entre altos (HPU) e baixos (LPU) níveis de utilização do processador. Binário de teste: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc Método de teste: Device_IO_With_Varying_ProcUtil Parâmetros: - consulte Parâmetros de teste de fundamentos do dispositivo DQ PingPongPeriod HPU LPU CiclosDeTeste
Entrada/Saída de dispositivo com um nível de utilização de processador fixo	Este teste faz testes de E/S do dispositivo com o nível de utilização do processador (PU) definido como uma porcentagem fixa. Binário de teste: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc Método de ensaio: Dispositivo_IO_Com_ProcUtil_Fixo Parâmetros: - consulte Parâmetros de teste de fundamentos do dispositivo DQ IOPeriod PU
Dispositivo PNP com um nível fixo de utilização do processador	Este teste faz o teste PNP do dispositivo com o nível de utilização do processador (PU) definido como uma porcentagem fixa. Binário de teste: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc Método de ensaio: Device_PNP_With_Fixed_ProcUtil Parâmetros: - consulte Parâmetros de teste de fundamentos do dispositivo DQ TestCycles PU
dormir com uso fixo do processador	Este teste alterna o sistema por vários estados de suspensão com o nível de utilização do processador definido em uma percentagem fixa. Binário de teste: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc Método de ensaio: Sleep_With_Fixed_ProcUtil Parâmetros: - consulte Parâmetros Fundamentais do Teste de Dispositivo TestCycles PU

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