Testes de E/S (Conceitos básicos do dispositivo)
Os testes de E/S de Conceitos Básicos do Dispositivo executam testes básicos de E/S nos dispositivos especificados.
Testes de E/S
| Teste | Descrição |
|---|---|
E/S do dispositivo |
Este teste executa testes básicos de E/S em dispositivos. Testar binário: Devfund_Device_IO.wsc Método de teste: DeviceIO Parâmetros: - consulte Parâmetros de teste de conceitos básicos do dispositivo DQ TestCycles IOPeriod IOType |
Teste de estresse de E/S simples com encerramento do processo de E/S |
Esse teste executa testes simples de E/S em dispositivos em um processo separado e encerra o processo de E/S após o período de E/S especificado e os ciclos de teste. Testar binário: Devfund_SimpleIoStress_TermIoProc.wsc Método de teste: SimpleIOStress_TermIoProc Parâmetros: - consulte Parâmetros de teste de conceitos básicos do dispositivo DQ TestCycles IOPeriod |
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