드라이버 검증 도구의 동시성 스트레스가 있는 런타임 전원 집중 스트레스
이 테스트는 디바이스의 다양한 조합에서 I/O를 수행하여 디바이스를 활성 상태와 유휴 상태 간에 변경합니다. 활성 및 유휴 상태인 디바이스의 다양한 조합을 만들면 PEP 논리가 완전히 실행되도록 하는 데 도움이 됩니다.
테스트 세부 정보
사양 |
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플랫폼 |
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지원되는 릴리스 |
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예상 실행 시간(분) | 120 |
범주 | 개발 |
시간 제한(분) | 120 |
다시 부팅 필요 | false |
특별한 구성 필요 | false |
형식 | automatic |
추가 설명서
이 기능 영역의 테스트에는 다음 항목에서 찾을 수 있는 필수 조건, 설정, 문제 해결 정보를 포함한 추가 설명서가 있을 수 있습니다.
문제 해결
HLK 테스트 실패의 일반적인 문제 해결은 Windows HLK 테스트 실패 문제 해결을 참조하세요.
문제 해결 정보는 시스템 기본 테스트 문제 해결을 참조하세요.
추가 정보
명령 구문
명령 옵션 | 설명 |
---|---|
TE.exe /inproc /enablewttlogging /appendwttlogging rtpwrstresscuzz.dll /p:"TestCycles=[TestCycles]" /p:"DelayBetweenCycles=[DelayBetweenCycles]" /p:"IODuration=[IODuration]" /p:"VerifierFlags=[VerifierFlags]" /p:"TestTimeoutValue=[TestTimeoutValue]" /p:"OptTeCmdLineParams=[OptTeCmdLineParams]" |
테스트를 실행합니다. |
참고
이 테스트 이진에 대한 명령줄 도움말을 보려면 /h
를 입력합니다.
파일 목록
파일 | 위치 |
---|---|
Rtpwrstresscuzz.dll |
[OSBinRoot]\ |
Te.exe |
[TAEFBinRoot]\ |
매개 변수
매개 변수 이름 | 매개 변수 설명 |
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DQ | SDEL 디바이스 쿼리 |
TestCycles | 테스트 주기 수 |
DelayBetweenCycles | 각 테스트 순환 사이의 대기 시간(밀리초) |
IODuration | I/O 지속 시간(밀리초) |
VerifierFlags | 사용하도록 설정할 드라이버 검증 도구 플래그 |
TestTimeoutValue | te.exe 실행을 위한 시간 제한 값 |
OptTeCmdlineParams | te.exe에 대한 선택적 명령줄 매개 변수 |