手動テスト - eMMC が大容量記憶装置モードで列挙されることの確認 (3e48ac04-c2c7-4dcd-afba-c72e23dfb65e)
これは手動テストであり、以下に示す手動の手順に従って、HLK の外部で実行する必要があります。 このテストを HLK スタジオまたはコントローラーからの自動テストとして実行すると、テストは機能をテストすることなく既定で成功します。 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------このテストを手動で実行するための手順: 1. デバイスの電源がオフになっていて、デバッグ ボードのすべての DIP スイッチが OFF の位置にあることを確認します。 デバイスを MSM 内に置くためにデバッグ ボードは必要ありません。 2. KDSERIAL を使用している場合は、シリアル ケーブルを切断するか、WinDbg が大量記憶装置のホットキーに干渉している場合は WinDbg を閉じます。 3. デバッグ ボードに電話を置き、電源を接続しますが、デバイスまたはデバッグ ボードの電源キーは押さないでください。 4. マイクロ USB ケーブルを USB3 ポートの USB2 部分に接続します。 これがデバイスのウェイク イベントとして機能します。 5. UEFI ブート中に、Vol+ ボタンとカメラ ボタンを長押しします。 これによって UEFI BDS メニューが表示されます。 6. デバイスが大容量記憶装置モードで再起動され、新しい物理ディスクがディスク マネージャー (diskmgmt.msc) に表示されます。 注: よくある間違い: マイクロ USB ケーブルが USB2 ポートに挿入されると、デバイスは電源が自動的にオンにならず、大容量記憶装置モードにもなりません。 --------------------------------------------------------------------------------------------------------- 注: このテストは、オプション機能の System.Client.MobileHardware に関連付けられています。 既定では、システム ターゲットの HLK Studio のテストの一覧には表示されません。 省略可能: HLK Studio でシステム ターゲットのテストの一覧に表示するには、次の手順を実行します。1] HLK Studio で、システム ターゲットを選択します 2] 選択したシステム ターゲットを右クリックします 3] [機能の追加と変更] をクリックします 4] デバイス機能の一覧ウィンドウが開きます 5] 下にスクロールして、System.Client.MobileHardware という名前の機能を選択します 6] チェック ボックスをオンにしてこのオプション機能を有効にします 7] このテストは、HLK Studio で選択したシステム ターゲットに適用されるテストの一覧に表示されます
テストの詳細
| 仕様 |
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| プラットフォーム |
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| サポートされているリリース |
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| 予想される実行時間 (分) | 10 |
| カテゴリ | 開発 |
| タイムアウト (分) | 15 |
| 再起動が必要です | false |
| 特別な構成が必要です | false |
| Type | manual |
その他のドキュメント
この機能領域のテストには、前提条件、セットアップ、トラブルシューティング情報など、次のトピックに記載されている追加のドキュメントが含まれている場合があります。
トラブルシューティング
HLK テスト エラーの一般的なトラブルシューティングについては、「Windows HLK テストのエラーのトラブルシューティング」を参照してください。