NVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG structure (nvme.h)
Contient des champs qui spécifient les informations d’une page de journal d’auto-test d’appareil qui décrit le status, le pourcentage d’achèvement et les résultats d’un auto-test d’appareil.
Cette structure est retournée par la commande Obtenir la page du journal. Pour plus d’informations, consultez NVME_CDW10_GET_LOG_PAGE.
Syntaxe
typedef struct {
struct {
UCHAR Status : 4;
UCHAR Reserved : 4;
} CurrentOperation;
struct {
UCHAR CompletePercent : 7;
UCHAR Reserved : 1;
} CurrentCompletion;
UCHAR Reserved[2];
NVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA ResultData[20];
} NVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG, *PNVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG;
Membres
CurrentOperation
Structure CurrentOperation contenant des champs qui décrivent l’opération device Self-Test actuelle.
CurrentOperation.Status
Indique la status de l’opération de Self-Test d’appareil en cours.
CurrentOperation.Reserved
Champ réservé dans la structure CurrentOperation .
CurrentCompletion
Structure CurrentCompletion contenant des champs qui décrivent l’achèvement d’une opération device Self-Test.
CurrentCompletion.CompletePercent
Indique le pourcentage d’achèvement de l’opération Device Self-Test. Ce champ est valide si le champ CurrentOperation.Status est différent de zéro.
CurrentCompletion.Reserved
Champ réservé dans la structure CurrentCompletion .
Reserved[2]
Champ réservé.
ResultData[20]
Tableau de 20 structures NVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA qui contiennent des données de résultats pour les 20 dernières opérations de Self-Test d’appareil, triées dans l’ordre, de la plus récente à la plus ancienne disponible.
Configuration requise
Condition requise | Valeur |
---|---|
Client minimal pris en charge | Windows 10 |
En-tête | nvme.h |