Test du système de port exposé USB
Ce test valide le mappage de port de tous les connecteurs compatibles SuperSpeed du système. Ce test s’attend à ce que le testeur se connecte à un hub USB-IF certifié USB 3.0 à chaque port USB 3.0 exposé, de façon séquentielle ou tout à la fois.
Détails du test
Spécifications |
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Plateformes |
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Versions prises en charge |
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Durée d’exécution prévue (en minutes) | 5 |
Catégorie | Compatibilité |
Délai d’expiration (en minutes) | 10 |
Nécessite un redémarrage | false |
Nécessite une configuration spéciale | false |
Type | automatique |
Documentation supplémentaire
Les tests dans ce domaine de fonctionnalités peuvent contenir une documentation supplémentaire, notamment des informations sur les conditions préalables, la configuration et la résolution des problèmes que vous trouverez dans la ou les rubriques suivantes :
Résolution des problèmes
Pour une résolution des problèmes génériques d’échecs de tests HLK, consultez Résolution des problèmes d’échecs de test Windows HLK.