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Tests de veille (principes de base de l’appareil)

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Les tests de mise en veille des principes de base de l’appareil exécutent des opérations d’E/S et PnP sur les appareils spécifiés, avant et après, ou pendant les transitions d’état de mise en veille du système. Les tests de veille garantissent que l’appareil testé permet au système d’être cycleé dans tous les états de veille pris en charge. En outre, il garantit que l’appareil est toujours fonctionnel après ces changements d’état par le biais d’un test de contrainte d’E/S simple.

Tests de veille

Test Description

Veille critique avec E/S avant et après

Ce test effectue des transitions d’état de veille critiques sur le système et effectue des E/S sur les appareils avant et après chaque cycle d’état de veille.

Binaire de test : Devfund_Critical_Sleep_With_IO_BeforeAndAfter.wsc

Méthode de test : Critical_Reboot_Restart_With_IO_Before_And_After

Paramètres : - consultez Paramètres de test de base de l’appareil

DQ

TestCycles

ResumeDelay

IOPeriod

Veille critique avec E/S pendant

Ce test effectue des transitions d’état de veille critiques sur le système et effectue des E/S sur les appareils.

Binaire de test : Devfund_Critical_Sleep_With_IO_During.wsc

Méthode de test : Critical_Sleep_With_IO_During

Paramètres : - consultez Paramètres de test de base de l’appareil

DQ

TestCycles

ResumeDelay

IOPeriod

Veille et PNP (désactiver et activer) avec les E/S avant et après

Ce test effectue le cycle du système dans différents états de veille et effectue les E/S et pnP de base (désactiver/activer) sur les appareils avant et après chaque cycle d’état de veille.

Pour plus d’informations, consultez À propos du test veille et PNP désactiver et activer avec des E/S avant et après le test.

Binaire de test : Devfund_Sleep_PNP_DisableEnable_With_IO_BeforeAndAfter.wsc

Méthode de test : Sleep_PNP_DisableEnable_With_IO_Before_And_After

Paramètres : - consultez Paramètres de test de base de l’appareil

DQ

TestCycles

ResumeDelay

IOPeriod

Veillez avec les E/S avant et après

Ce test effectue le cycle du système dans différents états de veille et effectue des E/S sur les appareils avant et après chaque cycle d’état de veille.

Pour plus d’informations, consultez À propos du test Veille avec E/S avant et après.

Binaire de test : Devfund_Sleep_With_IO_BeforeAndAfter.wsc

Méthode de test : Sleep_With_Io_Before_And_After

Paramètres : - consultez Paramètres de test de base de l’appareil

DQ

TestCycles

ResumeDelay

IOPeriod

Veillez avec des E/S pendant

Ce test effectue un cycle du système dans différents états de veille et effectue des E/S sur les appareils.

Binaire de test : Devfund_Sleep_With_IO_During.wsc

Méthode de test : Sleep_With_IO_During

Paramètres : - consultez Paramètres de test de base de l’appareil

DQ

TestCycles

ResumeDelay

IOPeriod

À propos du test Veille et PNP désactiver et activer avec les E/S Avant et Après le test

Ce test effectue les opérations suivantes :

  1. Vérifie que l’appareil de test et ses descendants ne signalent aucun code de problème d’appareil.
  2. Teste les E/S sur l’appareil de test et ses descendants à l’aide des plug-ins d’E/S simples WDTF. Pour plus d’informations, consultez Plug-ins d’E/S simples WDTF fournis .
  3. Envoie le système de test dans son premier état de veille pris en charge et le remet en veille après un certain temps.
  4. Vérifie que l’appareil de test et ses descendants ne signalent aucun code de problème d’appareil.
  5. Teste les E/S sur l’appareil de test et ses descendants à l’aide des plug-ins d’E/S simples WDTF. Pour plus d’informations, consultez Plug-ins d’E/S simples WDTF fournis .
  6. Si l’appareil de test peut être désactivé, le test désactive et active l’appareil de test à l’aide des interfaces d’action WDTF PnP. Pour plus d’informations, consultez méthodes IWDTFPNPAction2::D isableDevice et IWDTFPNPAction2::EnableDevice .
  7. Vérifie que l’appareil de test et ses descendants ne signalent aucun code de problème d’appareil.
  8. Teste les E/S sur l’appareil de test et ses descendants à l’aide de plug-ins d’E/S simples WDTF. Pour plus d’informations, consultez Plug-ins d’E/S simples WDTF fournis .
  9. Répète les étapes 3 à 8 pour chaque état de veille pris en charge du système de test.
  10. Répète les étapes 1 à 9 plusieurs fois.

À propos du test Veille avec E/S avant et après les E/S

Ce test effectue les opérations suivantes :

  1. Vérifie qu’il n’existe aucun appareil sur le système signalant les codes de problème d’appareil.
  2. Teste les E/S sur chaque appareil du système à l’aide de plug-ins d’E/S simples WDTF. Pour plus d’informations, consultez Plug-ins d’E/S simples WDTF fournis .
  3. Envoie le système de test dans son premier état de veille pris en charge et le remet en veille après un certain temps.
  4. Vérifie qu’il n’existe aucun appareil sur le système signalant les codes de problème d’appareil.
  5. Teste les E/S sur chaque appareil du système à l’aide de plug-ins d’E/S simples WDTF. Pour plus d’informations, consultez Plug-ins d’E/S simples WDTF fournis .
  6. Répète les étapes 3 à 5 pour chaque état de veille pris en charge du système de test.
  7. Répète les étapes 1 à 6 plusieurs fois.

Guide pratique pour tester un pilote au moment de l’exécution à l’aide de Visual Studio

Comment sélectionner et configurer les tests De base de l’appareil

Tests de base de l’appareil

Plug-ins d’E/S simples WDTF fournis

Comment tester un pilote au moment de l’exécution à partir d’une invite de commandes