NVDIMM-N-Integritätsinformationen abrufen (Funktionsindex 11)
Diese funktion _DSM Interface for Byte Addressable Energy Backed Function Class (Function Interface 1) gibt Informationen zur Integrität des NVDIMM-N-Moduls zurück.
Register sind in der Byte Addressable Energy Backed Interface-Spezifikation definiert.
Eingabe
Arg3
Keine.
Ausgabe
| Feld | Bytelänge | Byteoffset | Registrieren | BESCHREIBUNG |
|---|---|---|---|---|
| Status | 4 | 0 | Weitere Informationen finden Sie unter _DSM Methodenausgabe. | |
| Modulintegrität | 2 | 4 | Byte 0: MODULE_HEALTH_STATUS0 (0, 0xA1); Byte 1: MODULE_HEALTH_STATUS1 (0, 0xA2) | Ausführliche Informationen zur Integrität des NVDIMM-N-Moduls. |
| Modul Aktuelle Temperatur | 2 | 6 | Die Modultemperatur in Grad Celsius. Der Mindestwert beträgt 0. Diese Informationen werden vom Temperatursensor des NVDIMM-N Serial Presence Detect EEPROM abgerufen. | |
| Fehlerschwellenwertstatus | 1 | 8 | Byte 0: ERROR_THRESHOLD_STATUS (0, 0xA5) | Status in Bezug auf die Fehlerschwellenwerte für das NVDIMM-N-Modul. |
| Warnungsschwellenwertstatus | 1 | 9 | Byte 0: WARNING_THRESHOLD_STATUS (0, 0xA7) | Status in Bezug auf die Warnschwellenwerte im NVDIMM-N-Modul. |
| NVM-Lebensdauer | 1 | 10 | Byte 0: NVM_LIFETIME (0, 0xC0) | Der letzte bekannte wert für die nicht flüchtige Speicherlebensdauer in Prozent. |
| Anzahl der nicht behebbaren DRAM-ECC-Fehler | 1 | 11 | Byte 0: DRAM_ECC_ERROR_COUNT (2, 0x80) | Die Anzahl der nicht behebbaren ECC-Fehler, die von der Plattform aus dem NVDIMM-N-Modul erkannt wurden. |
| Anzahl der DRAM-korrekturbaren ECC-Fehler über Schwellenwertereignissen | 1 | 12 | Byte 0: DRAM_THRESHOLD_ECC_COUNT (2, 0x81) | Die Anzahl der korrigierenden ECC-Schwellenwertüberschreitungsereignisse, die von der Plattform aus dem NVDIMM-N-Modul erkannt wurden. |
Verwandte Artikel
Abrufen kritischer Integritätsinformationen (Funktionsindex 10)
Informationen zur Integrität der Energiequelle abrufen (Funktionsindex 12)